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  • ZML310顯微鏡法粒度粒形儀

    ZML310顯微鏡法粒度粒形儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)，具有直觀、可視、準確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數(shù)全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。

    更新時間

    2025-04-15

    廠商性質

    生產廠家

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